輸出點(diǎn)數(shù):32點(diǎn)。
輸出電壓及電流:DC5~24V 0.2A/1點(diǎn)。
2A/1公共端。
OFF時(shí)漏電流:0.1mA。
應(yīng)答時(shí)間:1ms。
16點(diǎn)1個(gè)公共端。
漏型三菱QS0J61BT12手冊(cè)。
40針連接器。
帶熱防護(hù)。
帶短路保護(hù)。
帶浪涌吸收器。
超高速處理,生產(chǎn)時(shí)間縮短,更好的性能。
隨著應(yīng)用程序變得更大更復(fù)雜,縮短系統(tǒng)運(yùn)行周期時(shí)間是非常必要的
QS0J61BT12
通過(guò)超高的基本運(yùn)算處理速度1.9ns,可縮短運(yùn)行周期。
除了可以實(shí)現(xiàn)以往與單片機(jī)控制相聯(lián)系的高速控制以外,
還可通過(guò)減少總掃描時(shí)間,提高系統(tǒng)性能,
防止任何可能出現(xiàn)的性能偏差。
方便處理大容量數(shù)據(jù)。
以往無(wú)法實(shí)現(xiàn)標(biāo)準(zhǔn)RAM和SRAM卡文件寄存器區(qū)域的連續(xù)存取,
在編程時(shí)需要考慮各區(qū)域的邊界三菱QS0J61BT12手冊(cè)。
在高速通用型QCPU中安裝了8MB SRAM擴(kuò)展卡,
可將標(biāo)準(zhǔn)RAM作為一個(gè)連續(xù)的文件寄存器,
容量最多可達(dá)4736K字,從而簡(jiǎn)化了編程。
因此,即使軟元件存儲(chǔ)器空間不足,
也可通過(guò)安裝擴(kuò)展SRAM卡,方便地?cái)U(kuò)展文件寄存器區(qū)域。
變址寄存器擴(kuò)展到了32位,從而使編程也可超越了傳統(tǒng)的32K字,
并實(shí)現(xiàn)變址修飾擴(kuò)展到文件寄存器的所有區(qū)域。
另外,變址修飾的處理速度對(duì)結(jié)構(gòu)化數(shù)據(jù)(陣列)的高效運(yùn)算起著重要作用,
該速度現(xiàn)已得到提高。
當(dāng)變址修飾用于反復(fù)處理程序(例如從FOR到NEXT的指令等)中時(shí),可縮短掃描時(shí)間。
借助采樣跟蹤功能縮短啟動(dòng)時(shí)間
利用采樣跟蹤功能,方便分析發(fā)生故障確定CPU模塊之間的數(shù)據(jù)收發(fā)時(shí)間三菱QS0J61BT12手冊(cè)。
可用編程工具對(duì)收集的數(shù)據(jù)進(jìn)行分析,
并以圖表和趨勢(shì)圖的形式方便地顯示位軟元件和字軟元件的數(shù)據(jù)變化。
并且,可將采樣跟蹤結(jié)果以GX LogViewer形式的CSV進(jìn)行保存,
通過(guò)記錄數(shù)據(jù)顯示、分析工具GX LogViewer進(jìn)行顯示。輸入電壓范圍:AC100-240V。
輸出電壓:DC5V。
輸出電源:2A。
超薄型電源。
簡(jiǎn)化程序調(diào)試
可使用帶執(zhí)行條件的軟元件測(cè)試功能,在程序上的任意步,
將軟元件值更改為用戶指定值。
以往在調(diào)試特定回路程序段時(shí),需要追加設(shè)定軟元件的程序,
而目前通過(guò)使用本功能,無(wú)需更改程序,即可使特定的回路程序段單獨(dú)執(zhí)行動(dòng)作。
因此,不需要單獨(dú)為了調(diào)試而更改程序,調(diào)試操作更簡(jiǎn)單。
自動(dòng)備份關(guān)鍵數(shù)據(jù)
將程序和參數(shù)文件自動(dòng)保存到無(wú)需使用備份電池的程序存儲(chǔ)器(Flash ROM)中,
以防因忘記更換電池而導(dǎo)致程序和和參數(shù)丟失QS0J61BT12安全指南。
此外,還可將軟元件數(shù)據(jù)等重要數(shù)據(jù)備份到標(biāo)準(zhǔn)ROM,
以避免免在長(zhǎng)假期間等計(jì)劃性停機(jī)時(shí),
這些數(shù)據(jù)因電池電量耗盡而丟失QS0J61BT12安全指南。
下次打開(kāi)電源時(shí),備份的數(shù)據(jù)將自動(dòng)恢復(fù)。
通過(guò)軟元件擴(kuò)展,更方便創(chuàng)建程序。
位軟元件的M軟元件和B軟元件最多可擴(kuò)展到60K點(diǎn),使程序更容易理解。